L'El·lipsometria, una eina de caracterització òptica dels materials

Autors/ores

  • Esther Pascual Miralles
  • Adolf Canillas Biosca
  • Enric Bertran Serra
  • Josep Campmany i Guillot

Descàrregues

Les dades de descàrrega encara no estan disponibles.

Descàrregues

Publicat

2005-11-09

Número

Secció

Articles