Progress in powder and surface X-ray diffraction crystallography

Resum

Una de les fites científiques més importants del segle XX ha estat sens dubte la descoberta de la difracció dels raigs X per la matèria cristal·lina i l'aprofitament d'aquest procés en la determinació de l'estructura cristal·lina dels materials. Tanmateix, no és fins a la darreria de segle que arriba la maduresa en aquest camp amb la solució gairebé automàtica de les estructures cristal·lines petites. Amb la maduresa emergeixen noves aplicacions dels mètodes de difracció. al destacar, entre les més importants per a la Ciència de Materials, la determinació de les estructures cristal·lines a partir de dades provinents de la difracció dels raigs X en pols cristal·lina, així com també la determinació de la disposició atòmica en les superfícies dels substrats i dels corresponents dipòsits, quan n'hi ha. Com que els avenços en aquestes dues aplicacions van estretament lligats a una reinterpretació recent dels mètodes directes tradicionals de solució d'estructures cristal·lines, s'ha cregut convenient fer-ne una breu introducció. Seguidament, es comentaran les modificacions introduïdes en aquests mètodes, per tal de poder tractar les particularitats específiques d'aquestes dues noves aplicacions, i finalment, es descriuran alguns exemples.